灵活对应试样尺寸
对应从微观到宏观的多种试样。

从φ10μm级的微细分析到最大□10㎝，XGT-5000可灵活对应大范围的尺寸。
从微小微型电极的10μm级元素分析，到概览考古学资料全体图像的元素分析，其应用范围很大。

微细试样的元素分析
＜微观＞
●电子部件的断线和夹杂物分析
●离子移动分析
●印刷电路板部件・LED・金属片
●破坏物片等

＜宏观＞
●古迹、夹杂物等的非破坏分析
●地层岩石和混凝土片等的大型试样

点击后可查看详细的分析内容。

• 10μm无铅焊锡基础的分析
  基础上的微细部分也在微观级上进行观察・分析。
  
  
• 药片内部的夹杂物分析
  可简单地对能够看到的夹杂物进行直接分析。
  
  
• 尼泊尔抄本插图分析
  较大试样可以在不被破坏的前提下对其进行元素分析。

分析解决介绍
XGT可解决的、分析中的各种“困难”。

如果引进XGT-5000，则可以从根本上解决以往不能解决的分析作业上的问题。下面将这些具体例子与成为课题的要点、解决要点一并加以介绍。

• 切出夹杂物断面很麻烦！
  试样的切削需要半天时间。 切削过程中会损坏甚至会销毁夹杂物。
  如果用XGT就能解决问题！
  
  
• 想要进行含水样品的元素分析！
  想要节省功夫和时间。 干燥后试样损坏。
  如果用XGT就能解决问题！
  
  
• 想不必破坏就能找出故障处！
  估计不出哪里有故障。 想要对整包进行分析。 如果不进行分解则不能找到发生故障的地方。
  如果用XGT就能解决问题！
  
  
• 想要对较大的样品原封不动地进行查找！
  没办法对大范围内元素的不均匀状况进行调查。 较大样品分成小包或者重复分析要花费功夫。
  如果用XGT就能解决问题！

分析手法的特征和原理

4个特点

1. 10μm高速分析
   使用其它公司没有的10μm XGT进行短时间分析。
2. 通过光学像进行简单、正确的分析定位
   从试样整体中简单地归纳出测定场所。
3. 透射/荧光X射线同时分析
   表面元素和内部构造的同时测定
4. 在大气中进行分析
   使用真空探针在大气中对试样进行分析。